Trabajos presentados en el Congreso Nacional de Física, Villahermosa Tabasco, 2019
AJUSTE POLINÓMICO PARA DEFINIR LA FORMA DE SUPERFICIES ÓPTICA LIBRES
Fermín Salomón Granados Agustín,
Instituto Nacional de Astrofísica, Óptica y Electrónica
Análisis de error por desalineación de una superficie asférica evaluada por deflectometría.
Diana Castán-Ricaño, Fermín S. Granados-Agustín, Maximino Avendaño-Alejo*, Elizabeth Percino-Zacarías y Alejandro Cornejo-Rodríguez.
Instituto Nacional de Astrofísica, Óptica y Electrónica, Luis Enrique Erro # 1, Santa María Tonantzintla, Puebla, México, C.P. 72840.
*Instituto de Ciencias Aplicadas y Tecnología, Circuito Exterior S/N, Ciudad Universitaria, C.P. 04510, México, Ciudad de Mexico, Campus: Ciudad Universitaria.
En el presente trabajo, se utiliza la deflectometría para medir la calidad de las superficies ópticas, por la precisión que se puede alcanzar. Para implementar esta técnica, se usa una pantalla para elegir algunos rayos incidentes que serán analizados. Para ello, se mide la intersección de los rayos elegidos al ser refractados por la superficie bajo prueba, en un plano de detección. Se usa una configuración nula la cual tiene un arreglo ordenado de puntos en el plano de detección, para ello se diseña la pantalla. Se ilumina la pantalla con un frente de onda esférico, la fuente puntual usada se coloca sobre el eje óptico junto con la pantalla, con esto se garantiza tener una distribución nula. Sin embargo, si existen desalineaciones de la superficie bajo prueba una nueva distribución de puntos se observa y se necesita corregir. Se muestran algunas simulaciones cuando existe descentramiento e inclinación de la superficie óptica bajo prueba y cómo afecta en la evaluación de la superficie.
Diseño de un telescopio de dos espejos usando trazo exacto de rayos
Jorge De Jesús Alvarado Martínez, Fermín Salomón Granados Agustín, *Sergio Vazquez Montiel, Alejandro Cornejo Rodríguez
Instituto Nacional de Astrofísica, Óptica y Electrónica, Luis Enrique Erro # 1, Santa María Tonantzintla, Puebla, México, C.P. 72840.
*Universidad Interserrana del Estado de Puebla Ahuacatlán;
Se presenta el diseño de un telescopio de dos espejos mediante el trazo exacto de rayos. En este diseño se utiliza un numero finito de rayos, a distintas alturas de incidencia respecto al eje óptico. Para ello se calcula la diferencia de camino óptico (DCO), entre la distancia que recorre cada rayo hasta alcanzar el plano de imagen y la distancia para un rayo paraxial. Asegurando que la (DCO) sea cero mediante el principio de Fermat para el conjunto de rayos analizado y a través de la Ofensa contra la Condición del seno (OCS), de este análisis se obtiene un conjunto de valores de constantes conicidad para corregir las aberraciones de esférica y coma simultáneamente. Con el conjunto de valores obtenidos de las constantes conicidad es posible obtener la forma de cada una de las superficies de los espejos, mediante un ajuste polinómico.
Los interferómetros de Albert. A. Michelson
Efrén Santamaría Juárez, María Elizabeth Percino Zacarías, Pedro Tecuatl Tecuatl Guadalupe Flores Serrano, Fermín Salomón Granados Agustín Alejandro Cornejo Rodríguez.
Instituto Nacional de Astrofísica, Óptica y Electrónica, Luis Enrique Erro # 1, Santa María Tonantzintla, Puebla, México, C.P. 72840.
A fines del siglo XIX y principios del XX, Albert A. Michelson desarrollo dos interferómetros: El primero, para medir la velocidad de la luz, clasificado como un interferómetro de división de la amplitud de la radiación, y de trayectorias diferentes. El otro, conocido como el interferómetro estelar, que por medio de cuatro espejos separados hacían coincidir la luz en un plano, donde a partir del interferograma observado midió diámetros de estrella. Se describirán con detalle sus estructuras y componentes experimentales, y como éstas fueron modificadas para ser aplicadas para encontrar las ondas gravitacionales con el instrumento LIGO, y los hoyos negros con ondas en radiofrecuencias; pasando de arreglos con distancias en cm o m, a km o intercontinentales, requiriendo para ello de las avanzadas tecnologías de los años recientes.
Simulación de ronchigramas de superficies cónicas afectadas por aberraciones
Fermín Salomón Granados Agustína María Elizabeth Percino Zacaríasa, Daniel Aguirre
Aguirreb, Brenda Villalobos Mendozab
aInstituto Nacional de Astrofísica, Óptica y Electrónica, INAOE, Apdo. Postal 51 and 216, C. P.72000, Puebla, México.
bInstituto de Ciencias Aplicadas y Tecnología (ICAT), Universidad Nacional de Autónoma de México (UNAM), Cd. Universitaria, Apdo. Postal 70-186, C.P. 04510, Cd. Mx, México.
cUniversidad de Monterrey Departamento de Física y Matemáticas, Av. Ignacio Morones Prieto 4500 Pte. San Pedro Garza García, C.P. 66238 Nuevo León, México
En el proceso de fabricación de una superficie cónica, se usa como referencia para medir de forma cualitativa, un ronchigrama ideal que se simula con los parámetros de diseño de la superficie. En la literatura se encuentran ronchigramas con aberraciones que se toman como referencia para conocer su comportamiento[1]. Sin embargo, para superficies cónicas no se cuenta con un mapa de ronchigramas afectado por aberraciones de manera individual, que nos permitan ver como se modifican las franjas para cada una de ellas. En el presente trabajo presentaremos un mapa de ronchigramas para superficies cónicas afectadas por aberraciones individuales, que ayude a conocer, de forma cualitativa que tipo de aberraciones están presentes durante el proceso de fabricación. Se muestran resultados de la evaluación del espejo primario del telescopio del Observatorio Astrofísico Guillermo Haro del INAOE.